Analytics XRF System
엑스레이 | 50W Mo target with |
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검출기 | Larger Widow, 70mm2, High resolution and high flux SDD with 135eV resolution |
초점 거리 | 초점거리: ~0.5mm ( 0.02inch) |
디지털 펄스 프로세싱 | 4096 CH digital multi-channel |
비디오 배율 | 매크로 : 45x (5x digital zoom), 마이크로 : 150x (듀얼 Vision Camera) |
Xralizer 측정 프로그램 | 보정(Calibration)이 간편한 FP (Fundamental Parameter) Method 방법과 Empirical Method 지원 |
한글 포함 10개국 이상의 언어 지원 (영어, 중국어, 일본어, 유럽 등) | |
Windows10 운영 O/S 기반 | |
미지의 시료 측정에서 자동 Spectrum 분석을 위한 Smart ID 기능 | |
여러 시료를 비교할 수 있는 Spectrum Overlay 기능 | |
자동 측정을 위한 측정 위치 Programming 기능과 3D Mapping 기능 | |
자동 측정을 위한 측정 포인트 별 자동 초점 기능과 패턴 인식 기능 | |
PDF, 엑셀, 워드 등의 다양한 결과 출력 형식과 실시간 결과 전송 기능 | |
Cp, Cpk, Cg, Cgk 기본 통계 기능 |
3D Measuring Laser Inspection
현미경 헤드 | 광학 소스 : 405nm 레이저 |
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탐지 시스템 : 공초점시스템 | |
동적 영역 : 16bit | |
총 배율 : 108x~17,280x | |
광학 줌 : 1x~8x | |
자동 대물렌즈 변경 | |
하드웨어 미분관찰 필터 장착 | |
87.5도 경사도 분석 가능 | |
렌즈부 | 레이저 공초점 전용렌즈, |
레이저 미분관찰, 명시야, 암시야, 편광 | |
10x, 20x, 50x, 100x는 레이저 현미경을 위해 고안된 전용 대물렌즈 | |
Field of View: 2,560um~16um | |
반복도와 정확도의 보증 | 정확도 |
평면 정확도 : 측정값 ±1.5% | |
단차 정확도 : 0.15+L/100 um 혹은이하 | |
(L=Measurement length) | |
반복도 | |
평면 반복도 : 3σn-1=0.02um 혹은 이하 | |
단차 반복도 : σn-1=0.02um 혹은 이하 | |
측정 | 1. Distance measurement |
2. Cross-sectional measurement | |
3. Line width measurement | |
4. Three-dimensional roughness | |
5. Two-dimensional roughness | |
6. Roughness parameter |