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반도체 XRF

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  • Analytics XRF System

    엑스레이 50W Mo target with
    검출기 Larger Widow, 70mm2, High resolution and high flux SDD with 135eV resolution
    초점 거리 초점거리: ~0.5mm ( 0.02inch)
    디지털 펄스 프로세싱 4096 CH digital multi-channel
    비디오 배율 매크로 : 45x (5x digital zoom), 마이크로 : 150x (듀얼 Vision Camera)
    Xralizer 측정 프로그램 보정(Calibration)이 간편한 FP (Fundamental Parameter) Method 방법과 Empirical Method 지원
    한글 포함 10개국 이상의 언어 지원 (영어, 중국어, 일본어, 유럽 등)
    Windows10 운영 O/S 기반
    미지의 시료 측정에서 자동 Spectrum 분석을 위한 Smart ID 기능
    여러 시료를 비교할 수 있는 Spectrum Overlay 기능
    자동 측정을 위한 측정 위치 Programming 기능과 3D Mapping 기능
    자동 측정을 위한 측정 포인트 별 자동 초점 기능과 패턴 인식 기능
    PDF, 엑셀, 워드 등의 다양한 결과 출력 형식과 실시간 결과 전송 기능
    Cp, Cpk, Cg, Cgk 기본 통계 기능
  • 3D Measuring Laser Inspection

    현미경 헤드 광학 소스 : 405nm 레이저
    탐지 시스템 : 공초점시스템
    동적 영역 : 16bit
    총 배율 : 108x~17,280x
    광학 줌 : 1x~8x
    자동 대물렌즈 변경
    하드웨어 미분관찰 필터 장착
    87.5도 경사도 분석 가능
    렌즈부 레이저 공초점 전용렌즈,
    레이저 미분관찰, 명시야, 암시야, 편광
    10x, 20x, 50x, 100x는 레이저 현미경을 위해 고안된 전용 대물렌즈
    Field of View: 2,560um~16um
    반복도와 정확도의 보증 정확도
    평면 정확도 : 측정값 ±1.5%
    단차 정확도 : 0.15+L/100 um 혹은이하
    (L=Measurement length)
    반복도
    평면 반복도 : 3σn-1=0.02um 혹은 이하
    단차 반복도 : σn-1=0.02um 혹은 이하
    측정 1. Distance measurement
    2. Cross-sectional measurement
    3. Line width measurement
    4. Three-dimensional roughness
    5. Two-dimensional roughness
    6. Roughness parameter
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